JTAG(Joint Test Action Group，聯合測試行動小組)是壹種國際標準測試協議，主要用於芯片內部測試及對系統進行仿真、調試，JTAG技術是壹種嵌入式調試技術，它在芯片內部封裝了專門的測試電路TAP ( Test
Access Port，測試訪問口)，通過專用的JTAG測試工具對內部節點進行測試。目前大多數比較復雜的器件都支持JTAG協議，如ARM、DSP、FPGA器件等。標準的JTAG接口是4線:TMS、TCK、TDI、TDO,分別為測試模式選擇、測試時鐘、測試數據輸入和測試數據輸出。
JTAG測試允許多個器件通過JTAG接口串聯在壹起，形成壹個JTAG鏈，能實現對各個器件分別測試。JTAG接口還常用於實現ISP( In-System Programmable在系統編程）功能，如對FLASH器件進行編程等。
通過JTAG接口，可對芯片內部的所有部件進行訪問，因而是開發調試嵌入式系統的壹種簡潔高效的手段。目前JTAG接口的連接有兩種標準，即14針接口和20針接口。