JTAG要求芯片為邊界掃描設置測試訪問端口(Test Access Port，TAP)。TAP有5條專用外信號線：TDI(測試數據輸入)、TDO(測試數據輸出)、TMS(測試方式選擇)、TCK(測試時鐘)、TRST(測試復位)。TAP主要由3個部分組成：TAP控制器、指令寄存器、數據寄存器。通常將TAP、專用信號線及相應的控制軟件統稱為JTAG接口。
課本的圖描述了芯片中TAP的組成。
通過JTAG邊界掃描測試，可以免除或大大減少對板上芯片連接狀況的傳統測試。
JTAG電路使TDI-TDO的串行數據鏈與核心邏輯建立了連接路徑，因而，利用JTAG接口也可完成對芯片配置數據的下載或讀出。