CPK= Min[ (USL- Mu)/3σ, (Mu - LSL)/3σ]
Cpk是指過程平均值與產品標準規格發生偏移（ε）的大小，常用客戶滿意的上限偏差值減去平均值和平均值減去下限偏差值中數值小的壹個，再除以三倍的西格瑪的結果來表示。
Cpk=MIN(Tu-μ，μ-Tl）/（3*σ)
或者Cpk=（1-k）*Cp，其中k=ε/（T/2）
通常狀況下，質量特性值分布的總體標準差（σ）是未知的，所以應采用樣本標準差（s）來代替。
擴展資料應用
1 當選擇制程站別Cpk來作管控時，應以成本做考量的首要因素，還有是其品質特性對後制程的影響度。
2. 計算取樣數據至少應有20~25組數據，方具有壹定代表性。
3. 計算Cpk除收集取樣數據外，還應知曉該品質特性的規格上下限(USL，LSL)，才可順利計算其值。
4. 首先可用Excel的“STDEV”函數自動計算所取樣數據的標準差(σ)，再計算出規格公差(T)，及規格中心值(u). 規格公差=規格上限－規格下限；規格中心值=（規格上限+規格下限）/2。
5. 依據公式：Ca=(X-U)/(T/2) ， 計算出制程準確度：Ca值 (x為所有取樣數據的平均值)。
6. 依據公式：Cp =T/6σ ， 計算出制程精密度：Cp值。
7. 依據公式：Cpk=Cp(1-|Ca|) ， 計算出制程能力指數：Cpk值。
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