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燒錄NAND Flash程序時校驗為什麽提示出錯?

NAND Flash跟普通的Flash結構不壹樣,由於NAND Flash自身的特性,偶爾會出現位反轉的情況,所以在燒錄的時候要註意下ECC。位反轉是指原先Nand Flash中的某個位,變化了,即要麽從1變成0了,要麽從0變成1了。小容量的NandFlash壹般不容易產生位反轉,如1Gbit、2Gbit的;壹般大容量的會比較容易產生,如32Gbit的。

為什麽會出現位反轉的情況,有以下幾點原因:

漂移效應:漂移效應指的是,Nand Flash中cell的電壓值,慢慢地變了,變的和原始值不壹樣了。

編程幹擾所產生的錯誤:此現象有時候也叫做,過度編程效應。

對於某個頁面的編程操作,即寫操作,引起非相關的其他的頁面的某個位跳變了。

讀操作幹擾產生的錯誤:此效應是,對壹個頁進行數據讀取操作,卻使得對應的某個位的數據,產生了永久性的變化,即Nand Flash上的該位的值變了。

在燒錄的過程中如果沒有設置相應的ECC,那麽在校驗的時候發現NAND Flash裏面的數據和原始數據不壹樣,燒錄就提示出錯了。

解決的辦法就是在燒錄前,就設置好ECC,如我用的SmartPRO 6000F-PLUS是這樣設置的,如下圖示。

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