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內存的性能指標

內存的性能指標有以下方面。

1、存儲速度:內存的存儲速度用存取壹次數據的時間來表示,單位為納秒,記為ns,1秒=10億納秒,即1納秒=10ˉ9秒。Ns值越小,表明存取時間越短,速度就越快。

2、容量:內存的容量越大越不容易卡頓,但它要受到主板支持最大容量的限制。單條內存的容量有1GB、2GB、4GB等幾種。主板上通常都至少提供兩個內存插槽,若安有多條內存,則電腦內存的總容量是所有內存容量之和。

3、CL CL是CAS Lstency的縮寫,即CAS延遲時間,是指內存縱向地址脈沖的反應時間,是在壹定頻率下衡量不同規範內存的重要標誌之壹。

4、SPD芯片 SPD是壹個8針256字節的EERROM(可電擦寫可編程只讀存儲器) 芯片.位置壹般處在內存條正面的右側, 裏面記錄了諸如內存的速度、容量、電壓與行、列地址、帶寬等參數信息。當開機時,計算機的BIOS將自動讀取SPD中記錄的信息。

5、工作電壓:由於低電壓內存要低於標準電壓1.5V保證穩定工作,因此生產低電壓內存要求更高的品質,出廠時內存電壓越高就代表內存品質越不好,這也是低電壓內存的優點之壹。因此,內存條高低電壓的區別就在於低壓內存條比高壓內存條耗電量低,更加環保。

擴展資料:

內存的構造和原理。

內存的內部結構是PC芯片中最簡單的,是由許多重復的“單元”——cell組成,每壹個cell由壹個電容和壹個晶體管(壹般是N溝道MOSFET)構成,電容可儲存1bit數據量,充放電後電荷的多少(電勢高低)分別對應二進制數據0和1。

由於電容會有漏電現象,因此過壹段時間之後電荷會丟失,導致電勢不足而丟失數據,因此必須經常進行充電保持電勢,這個充電的動作叫做刷新,因此動態存儲器具有刷新特性,這個刷新的操作壹直要持續到數據改變或者斷電。

而MOSFET則是控制電容充放電的開關。DRAM由於結構簡單,可以做到面積很小,存儲容量很大。

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