JTAG
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TMS、TCK、TDI、TDO,分別為模式選擇、時鐘、數據輸入和數據輸出線。 相關JTAG引腳的定義為：TCK為測試時鐘輸入；TDI為測試數據輸入，數據通過TDI引腳輸入JTAG接口；TDO為測試數據輸出，數據通過TDO引腳從JTAG接口輸出；TMS為測試模式選擇，TMS用來設置JTAG接口處於某種特定的測試模式；TRST為測試復位，輸入引腳，低電平有效。GND
TI還定義了壹種叫SBW-JTAG的接口，用來在引腳較少的芯片上通過最少的利用引腳實現JTAG接口，它只有兩條線，SBWTCK，SBWTDIO。實際使用時壹般通過四條線連接，VCC，SBWTCK，SBWTDIO，GND，這樣就可以很方便的實現連接，又不會占用大量引腳。
JTAG最初是用來對芯片進行測試的,基本原理是在器件內部定義壹個TAP（Test Access Port測試訪問口）通過專用的JTAG測試工具對內部節點進行測試。JTAG測試允許多個器件通過JTAG接口串聯在壹起，形成壹個JTAG鏈，能實現對各個器件分別測試。現在，JTAG接口還常用於實現ISP（In-System Programmable;在線編程），對FLASH等器件進行編程。
JTAG編程方式是在線編程，傳統生產流程中先對芯片進行預編程後再裝到板上因此而改變，簡化的流程為先固定器件到電路板上，再用JTAG編程，從而大大加快工程進度。JTAG接口可對PSD芯片內部的所有部件進行編程。
在硬件結構上，JTAG 接口包括兩部分：JTAG 端口和控制器。與JTAG 接口兼容的器件可以是微處理器（MPU）、微控制器（MCU）、PLD、CPL、FPGA、DSP、ASIC 或其它符合IEEE1149.1 規範的芯片。IEEE1149.1 標準中規定對應於數字集成電路芯片的每個引腳都設有壹個移位寄存單元，稱為邊界掃描單元BSC。它將JTAG 電路與內核邏輯電路聯系起來，同時隔離內核邏輯電路和芯片引腳。由集成電路的所有邊界掃描單元構成邊界掃描寄存器BSR。邊界掃描寄存器電路僅在進行JTAG 測試時有效，在集成電路正常工作時無效，不影響集成電路的功能。