分析原理 能量色散X射線熒光分析法
分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）
Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）
檢出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
樣品形狀 最大460×380mm(高150mm)
樣品 塑料/金屬/紙/塗料/油墨/液體
樣品室氣氛 大氣
X射線管 靶材 Rh
管電壓 最大50KV
管電流 最大1mA
X射線照射徑 1/3/5mm
防護 <0.1mR/Hr (輻射低於電腦屏幕）
檢測器 矽SIPIN探測器
光學圖像觀察 倍率15倍
軟件 定性分析：自動定性（自動去背景/自動剝離重疊峰/自動補償逃逸峰/自動補償譜圖漂移）
照射徑： 1/3/5mm
定量分析： 基礎參數法/標準法/1點校正
計算機 CPU PentiumIV1.8GHz以上
內存 256MB以上
硬盤 20GB以上
OS WindowXP
監視器 17寸LCD
周圍溫度 10～35。C（性能溫度）/5～40。C（動作溫度）
周圍濕度 5～31。C時溫度範圍：最大相對濕度80%以下
31～40。C時溫度範圍：相對濕度50%以下
電源 AC110V/220V±10%、50/60HZ
消耗電力 1.3KVA以下（含計算機、LCD、打印機）
設備重量 約65kg(不含桌子、計算機）
外形寸法 600（W）×545（D）×435（H）mm