1、成本考慮：對每壹片芯片都進行全面的測試是不現實的，因為這將導致極高的測試成本。
2、芯片的復雜性：現代芯片極為復雜，要全面測試每壹片芯片的每壹個特性不僅費時費力，而且也不壹定能夠完全發現潛在的問題。因此，半導體芯片測試是抽檢。