JTAG(Joint Test Action Group ，聯合測試行動小組 ) 是壹種國際標準測試協議，主要用於芯片內部測試及對系統進行仿真、調試， JTAG 技術是壹種嵌入式調試技術，它在芯片內部封裝了專門的測試電路 TAP （ Test Access Port ，測試訪問口），通過專用的 JTAG 測試工具對內部節點進行測試。
如今大多數比較復雜的器件都支持 JTAG 協議，如 ARM 、 DSP 、 FPGA 器件等。標準的 JTAG 接口是 4 線： TMS 、 TCK 、 TDI 、 TDO ，分別為測試模式選擇、測試時鐘、測試數據輸入和測試數據輸出。如今 JTAG 接口的連接有兩種標準，即 14 針接口和 20 針接口，其定義分別如下所示。 1 、 13 VCC 接電源
2 、 4 、 6 、 8 、 10 、 14 GND 接地
3nTRST測試系統復位信號
5TDI 測試數據串行輸入
7TMS測試模式選擇
9TCK測試時鐘
11 TDO 測試數據串行輸出
12 NC 未連接 1 VTref 目標板參考電壓，接電源
2 VCC 接電源
3 nTRST 測試系統復位信號
4、6、8、10、12、14、16、18、20GND 接地
5 TDI 測試數據串行輸入
7 TMS 測試模式選擇
9 TCK 測試時鐘
11 RTCK測試時鐘返回信號
13 TDO 測試數據串行輸出
15 nRESET 目標系統復位信號
17 、 19 NC未連接 仿真器端口 AVR端口 備註
1. TCK TCK
2. NC NC
3. TDO TDO
4. Vtref VCC
5. TMS TMS
6. nSRST RESET
7. NC / Vsupply NC / VCC JTAG ICE仿真器：VCC；JTAG ICE mkII仿真器：NC
8. nTRST NC ATMEL尚且保留該端口，如今暫不使用它，未來可能會使用
9. TDI TDI
10.GND GND